Théorie dynamique de la microscopie et diffraction électronique: mesure des intensitésPresses universitaires de Rouen et du Havre, 1974 - 144 pages Ce livre est destiné à tous les chercheurs, qu'ils soient universitaires ou industriels, désireux de se mettre au courant des problèmes actuels posés en microscopie électronique, soit comme utilisateurs éventuels, soit comme lecteurs d'ouvrages spécia¬lisés utilisant le microscope électronique comme outil de travail. Dans ce but, un soin particulier a été apporté aux notations et le choix bibliographique permet une référence aux principaux articles. |
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Théorie dynamique de la microscopie et diffraction électronique: mesure des ... Pierre Haymann Affichage d'extraits - 1974 |
Expressions et termes fréquents
absorption Acta Cryst Approximation d'ordre approximation de Born atomes calculer coefficient condition de Bragg conditions aux limites considérer correspondant cos² cristal d'absorption d'électrons d'interférence déplacement diagramme diffusion inélastique direction écrire électrons incidents électrons lents électrons rapides équations facteur de structure faisceau incident faisceaux diffractés fonction d'onde Fourier h₁ h₂ HAYMANN interaction Japan l'amplitude de l'onde l'angle l'approximation l'épaisseur l'équation de Schrödinger l'expression l'onde diffusée l'onde incidente l'ordre Laue lignes de Kikuchi maille matrice de diffraction nombre d'onde normale obtient ondes parallèle perpendiculaire phonon Phys plan plaque photographique plasmons potentiel interne moyen problème pseudo-potentiel réfraction représente réseau réciproque section efficace série de Fourier sin² sphère d'Ewald suppose surface de dispersion tache tg² théorie cinématique théorie dynamique transformée de Fourier utilisant valeur vecteur d'onde vecteurs propres WHELAN